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先进陶瓷元器件解决方案

专注于半导体陶瓷器件领域,提供从生瓷到熟瓷段的全流程测试、检测、分选和修复解决方案,助力提升芯片产品可靠性与竞争力。

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整版/整片检测设备

AMB、DBC、DPC检测产品线

DPC002 整版/整片检测设备

整版/整片检测设备专为DPC陶瓷基板整版检测设计,采用高精度AOI成像技术,可高效检出红铜残留、短路、固定点、膜丝反粘、显影不净及氧化变色等缺陷,支持精度分档,满足不同工艺需求。设备在保证高准确率的同时,兼顾检测效率,助力提升产品质量与生产良率。

产品优势

01

高精度检测支持最高像素精度1μm、重复精度±1μm,常用精度5μm,可识别细微缺陷,确保检测可靠性。

02

多缺陷类型覆盖可检测红铜残留、短路、固定点、膜丝反粘、显影不净、氧化变色等常见DPC制程缺陷,全面保障产品质量。

03

低过杀与漏检过杀率控制在1%,漏检率0.5%(不同缺陷略有差异),有效平衡检出率与误判率,减少浪费与风险。

04

高效检测能力针对76-101mm尺寸产品,检测效率达27秒/片,兼顾精度与速度,满足批量生产需求。

产品功能

产品规格

检测对象
DPC整版/整片
最高精度
像素精度1μm,重复精度±1μm支持精度分档
常用精度
像素精度5μm,重复精度±5μm以下数据以常用精度为例计算
过杀率
1%不同缺陷会有差异
漏检率
0.5%不同缺陷会有差异
检测效率
27s/片针对76-101mm尺寸产品

应用范围

DPC陶瓷基板生产用于DPC工艺整版检测,实时监控红铜残留、短路等缺陷,提升产品良率。

AMB/DBC基板检测适用于AMB(活性金属钎焊)和DBC(直接覆铜)基板的整片外观检测,保障基板质量。

先进陶瓷元器件制造在先进陶瓷元器件生产线上,对整版陶瓷基板进行快速筛查,降低不良品流出风险。