先進セラミック部品ソリューション
半導体セラミック部品に特化し、全工程のテスト、検査、選別、修復ソリューションを提供します。
画像検査
ME2000 セラミック貫通穴検査機
ME2000セラミック貫通穴検査機は、高精度なセラミック貫通穴検査用に設計されており、最大1,000万穴の検出をサポートし、最高精度は1μmです。優れた操作性を備え、DXFおよびGerberファイルのインポートに対応し、セラミック基板、LTCC、HTCCなどに広く応用されています。
製品優位性
01
超高スルーホール検出能力：最大1,000万個のスルーホール検出をサポートし、大規模セラミック基板の量産ニーズに対応します。
02
ミクロンレベルの検出精度：最高検出精度は1μmで、微小スルーホールの寸法と位置精度を確保します。
03
便利なファイルインポート：DXFおよびGerberファイルの直接インポートに対応し、プログラミングプロセスを簡素化し、効率を向上させます。
04
優れた操作性：人間工学に基づいたインターフェースと自動化プロセスにより、操作のハードルを下げ、人為的ミスを低減します。
製品機能
製品仕様
- 最大検査数：
- 10,000,000個
- 検出精度（最高）：
- 1μm
- 対応ファイル形式：
- DXF, Gerber
- 対象製品：
- セラミック基板、LTCC、HTCCなど
適用範囲
セラミック基板スルーホール検査：セラミックパッケージ基板における高密度スルーホールの寸法および欠陥検出に使用されます。
LTCC/HTCCプロセス検査：低温同時焼成セラミックおよび高温同時焼成セラミック製品のスルーホール品質検査に適用されます。
マイクロエレクトロニクスパッケージ検査：先進パッケージングにおけるセラミック基板スルーホールの高精度検出要件を満たします。
MEMSデバイス検査：MEMSにおけるセラミック基板のミクロンスルーホールの自動検出に使用されます。