先進セラミック部品ソリューション
半導体セラミック部品に特化し、全工程のテスト、検査、選別、修復ソリューションを提供します。
HTCC / LTCC 生瓷段製品ライン
ME2000 セラミック貫通穴検査装置
ME2000セラミック貫通穴検査機は、高精度なセラミック貫通穴検出用に設計されており、最大1,000万穴の検出に対応し、最高精度は1μmに達します。優れた操作性を備え、DXFおよびGerberファイルのインポートに対応し、セラミック基板、LTCC、HTCCなどの分野で広く使用されています。
製品優位性
01
超高通孔検出能力：最大1,000万穴の検出に対応し、大規模セラミック基板の量産ニーズを満たします。
02
ミクロン級の検出精度：最高検出精度は1μmで、微小な貫通穴の寸法と位置精度を保証します。
03
便利なファイルインポート：DXFおよびGerberファイルの直接インポートに対応し、プログラミング工程を簡素化し、効率を向上させます。
04
優れた操作性：人間工学に基づいたインターフェースと自動化プロセスにより、操作のハードルを下げ、人為的ミスを低減します。
製品機能
製品仕様
- 最大検出数：
- 10,000,000個
- 検出精度（最高）：
- 1 μm
- 対応ファイル形式：
- DXF、Gerber
- 対応製品：
- セラミック基板、LTCC、HTCCなど
適用範囲
セラミック基板貫通穴検査：セラミックパッケージ基板における高密度貫通穴の寸法および欠陥検査に使用されます。
LTCC/HTCCプロセス検査：低温同時焼成セラミックおよび高温同時焼成セラミック製品の貫通穴品質検査に適用されます。
マイクロエレクトロニクスパッケージ検査：先進パッケージングにおけるセラミック基板貫通穴の高精度検査ニーズに対応します。
MEMSデバイス検査：MEMSにおけるセラミック基板のミクロン級貫通穴の自動検査に使用されます。